先心病儿童心脏起搏器导线寿命研究

儿童及先天性心脏病(CHD)患者常需依赖心脏植入设备(如起搏器和植入式心律转复除颤器，ICD)以维持正常心律，这些设备中的导线在患者生命周期内面临损坏风险，但关于导线长期功能的数据较少。

研究目的

本研究旨在评估起搏器和除颤器导线在植入后10年以上的儿童及先天性心脏病患者中的性能表现，并确定与导线过早失效相关的患者和导线相关因素。

研究方法

这是一项回顾性研究，回顾了在30年时间内在一所大型儿童医院接受治疗的装有起搏器或除颤器的所有患者。使用对数秩检验和Cox比例风险模型来确定与早期导线故障相关的风险因素。

如上图所示，该研究在 30 年期间，收集并分析了 396 名患者的数据，共植入了 952 根 CIED 导线。

关键词：

cardiovascular implantable electronic device：心血管植入式电子设备

defibrillator：除颤器

lead failure：导线故障

pacemaker：起搏器

pediatric cardiology：儿科心脏病学

研究结果

1. 导线长期使用寿命

表6的统计数据显示，再纳入研究的952 根导线中有 110 例 （12%） 发生导线失效，396 例患者中有 83 例 （21%） 至少经历过 1 例导线失效。总导线生存率为 5 年 96%，10 年为 87%，15 年为 78%，20 年为 69%。起搏导线的长期使用寿命略高于 ICD导线，但差异无统计学意义。

2. 风险因素

接下来，研究人员基于 Cox 比例风险模型进行了多变量回归分析，如图1所示，身高每年增长≥5厘米的患者导线失效率显著升高(HR=3.33,P<0.001)，年龄较小的患者(HR=1.89,P=0.02)、男性(HR=1.56，P=0.04)、以及心外膜植入方式(HR=2.08，P<0.01)均与导线损坏相关。同时，CHD的存在、导线绝缘和制造商对导线寿命无显著影响。

Figure 1. Multivariate Analysis of Risk Factors for Lead Failure

图2的Kaplan-Meier 曲线也直观地显示了导线生存率的差异，按患者植入时的年龄、患者性别、身体成长和导线植入方法分层。

Figure 2. CIED Lead Survival Curves, Stratified by Selected Risk Factors

3. 导线损坏原因

最后，研究人员探讨了导线损坏的原因，发现最常见的机制是感知失败、夺获阈值升高和导线断裂。早期导线失效（植入后<5年）更可能是由于导线脱位引起的，而后期导线失效则没有导线脱位的情况。

研究结论

在这项研究中，患者的身体成长，尤其是身高变化 ≥5 cm/年，是早期导线失败的最重要预测因子。更明显的身高变化可能是在男性患者、年轻患者和通过心外膜入路植入的导线中观察到的导线失效率增加的原因。关于导线寿命的大规模多中心研究可能更好地帮助儿科和 CHD 患者进行风险分层。